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GE检测控制技术参展中国半导体展览会Semicon 2012

发布日期：2012-03-23 14:40

GE检测控制技术参加了在上海举办的2012年中国半导体展览会Semicon China。现场向观众展示GE的高性能X射线检测系统，这是一款GE去年新推出的具有卓越的性价比的检测系统，可简便地用于半导体分装封装和线路板组装等电子行业领域。除此之外，还会展示GE的传感器，现场仪表以及超声检测系统等。

GE的展位位于上海新国际展览中心E5馆5505-5507。