Wayne Kerr Electronics测控技术研讨会闪耀中国电子展
发布日期：2014-04-16 16:47
Wayne Kerr Electronics研讨会于2014年04月11日在深圳会展中心6号馆6C001举行。测控技术是建立在电路与计算机基础上的一门新兴技术。21世纪的测控将是一个开发的系统概念，信息交换共享这个时代主题也是测控系统的发展方向，所以，通过组建网络来形成使用测控系统已成为现代测控技术的发展趋势。
深圳市稳科电子仪器有限公司 林谦
本次会议针对测控技术主要提到以下3个方面：
1.影响测试的主要的几个因素
2.仪器显示问题
3.很难测准的器件
Wayne Kerr Electronics成立于1946，总部在英国，主要设计和制造电子测试测量仪器专注LCR，并且拥有世界范围内的销售网络。本次会议由深Wayne Kerr Electronics林谦先生为大家做详细讲解。
在会上，林谦先生提到影响测试的主要有以下几个因素：测试频率的影响、测试信号源的大小、测试直流偏置大小影响、温度影响、其他一些因素影响。并为大家介绍了其公司产品，32651台输出25A，5台叠加可以到125A，最高使用频率到3MHz；6565则是1台加偏置电流10A，4台叠加可以到40A，最高频率到120MHz，客户可按需求进行选择使用。
最后，在介绍很难测准的器件时，林谦先生为大家分享了自己的经验之谈，在一些厂家通常有生产一种电容的ESR值非常小通常在uΩ级别，这个对仪器是一个考验。
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